本發明涉及一種半導體激光器功率測試裝置及其使用方法,屬于半導體激光器測試技術領域。裝置包括底座、激光器插座、滑軌和功率測試頭,其中,底座一側設置滑軌,滑軌上滑動連接測試支撐桿,測試支撐桿上端設置功率測試頭,滑軌上設置機械按壓開關,底座另一側設置插座支撐桿,插座支撐桿上端設置激光器插座,激光器插座導線連接至機械按壓開關,激光器插座內設置激光器。本發明在不改變正常生產工序的情況下,避免激光器拔插測試時受到瞬間大電流沖擊失效,同時通過快速調整功率測試頭測試位置和減少電源開關時間提高工作效率。
聲明:
“半導體激光器功率測試裝置及其使用方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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