本發明公開了一種嵌入式EEPROM的“讀”測試基準建立方法,基于EEPROM標準Cell的讀電流通過比例分割產生一組讀基準電流,掃描比例分割參數的同時測試各基準電流配置下的EEPROM失效比例,間接測得EEPROM的讀窗口;基于已得的讀窗口數據,結合產品工藝可控參數及EEPROM的可靠性考核結果,得出最終的EEPROM“讀”測試基準;以此保證成品品質及圓片制造的工藝冗余度,同時降低產品的生產成本。
聲明:
“嵌入式EEPROM的“讀”測試基準建立方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)