本發明公開了一種IGBT模塊的鍵合線斷裂狀態監測方法及裝置。該方法包括:采集IGBT模塊中下橋IGBT器件的集電極電壓;當判斷所述集電極電壓到零時,對當前集電極電壓負向過沖進行采樣;建立所述IGBT模塊健康狀態時集電極電壓負向過沖的基準值;將所述當前集電極電壓負向過沖和所述基準值進行比較;根據比較結果確定所述IGBT模塊的運行狀態。利用半橋結構動作器件關斷過程的集電極電壓負向過沖監測IGBT芯片失效,該方法受電容電壓變化影響小,且在不同的負載電流下依然可以保持較高的變化率,能夠對IGBT模塊發射極鍵合線部分斷裂進行有效監測。
聲明:
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