本發明涉及一種關于IC高壓損傷模擬系統及方法,所述系統包括控制裝置、電壓裝置、電壓脈沖源裝置及檢測裝置;所述控制裝置連接于電壓裝置及電壓脈沖源裝置,所述控制裝置用于控制電壓裝置及電壓脈沖源裝置;所述電壓裝置用于為待檢測IC提供工作電壓;所述電壓脈沖源裝置用于向待檢測IC的待測引腳輸出電平脈沖;所述檢測裝置用于采集待測IC的耐壓程度及損傷程度,并生成數據庫。通過對待檢測IC進行高壓損傷模擬,形成每顆IC特有的數據庫,而當發生IC失效時,將失效數據導入到數據庫中進行比對,就可以反推出導致損傷的電壓狀態以及路徑,實現追根溯源,及快速定位失效源頭,提高終端問題的解決效率。
聲明:
“關于IC高壓損傷模擬系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)