一種基于損傷電壓的IGBT模塊狀態評估方法,包括電熱耦合計算;結構場計算;繪制修正后的S-N曲線;通過修正后的S-N曲線和電-熱-結構場的計算結果,以及功率循環次數對IGBT模塊模型進行修正;對修正后的模型進行電熱耦合分析,計算不同損傷程度下的IGBT模塊的損傷電壓,從而得到IGBT模塊的損傷電壓曲線,即IGBT模塊的狀態評估模型。本發明一種基于損傷電壓的IGBT模塊狀態評估方法,將功率器件未曾考慮多工況對疲勞失效作用;以及對S-N曲線進行修正并用于IGBT模塊損傷狀態評估,克服了現有技術的缺陷,實現了對損傷狀態的準確評估。
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