本發明公開了一種觸控顯示裝置異常處理方法,用于對觸控顯示裝置進行異常檢測處理,包括步驟:TDDI集成芯片對面板公共電極分塊掃描,獲取公共電極分塊運行參數;將運行參數與規定閾值進行比較,獲取公共電極分塊運行異常分類結果;對TDDI集成芯片的掃描頻率或者負載輸入進行修正,以消除運行異常;運行參數包括過孔信號、持續輸入負載。還公開了一種異常處理系統。通過對面板公共電極分塊掃描,獲取公共電極分塊運行參數,獲取公共電極塊的異常類型,例如過孔失效、重載輸入等,采取減小采集頻率、與周圍鄰近的VCOM分塊進行短接及關閉采集頻率,從而減弱或者消除整面出現的個別發亮或發暗的VCOM分塊現象。
聲明:
“觸控顯示裝置異常處理方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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