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    應用于反熔絲FPGA老煉篩選技術

    1141   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 09:05:34
    本發明屬于集成電路領域,涉及一種應用于反熔絲FPGA的老煉篩選技術。包括:交叉反熔絲正偏應力測試;反偏反熔絲反偏應力測試;老煉運行狀態IO波形監測;反熔絲FPGA動態老煉時序。通過老煉技術,能使原有產品中存在的缺陷盡可能多的提前顯現出來,并剔除失效產品,進而提高電子產品可靠性,降低故障率。
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