簡介
JEM-2100F 應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍,輕松實現各種分析功能。
工作原理
JEM2100用于樣品的形貌、粒徑、分散性等相關信息,同時還可通過明場像、暗場像對樣品的質厚襯度像、衍襯像進行進一步的表征分析。對樣品組織結構進行納米尺度的微分析。高分辨晶格條紋像、選區電子衍射、會聚束電子衍射等。對納米級的微區或晶粒的進行成分分析,可選擇性的對樣品進行點線面能譜掃描,獲得元素在樣品不同區域的分布情況。 技術參數
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加速電壓30,60,120,200kV
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球差系數1.0mm
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點分辨率0.23nm
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晶格分辨率0.14nm
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成像模式TEM
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放大倍數×2000~1500000
選型原則
檢測能力:形貌、結構、成分分析 應用案例
下單網址:www.foftest.com 設備結構
JEM-2100F 應用廣泛,從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200KV場發射透射電鏡JEM-2100F,不僅可實現超高分辨率圖像的觀察,同時,還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍,輕松實現各種分析功能。