XRD FRINGE 射線衍射儀

工作原理

儀器基于布拉格衍射定律（2dsinθ=nλ），利用X射線與晶體材料的相互作用。當單色X射線照射樣品時，晶體中規則排列的原子使X射線產生衍射，形成特定空間分布的衍射峰。探測器捕獲衍射信號后，結合專業軟件分析衍射峰位置、強度及形狀，通過數據庫比對與算法計算，確定材料的物相組成、晶胞參數及原子排列方式。其核心技術包括θ-θ立式測角儀設計、高分辨率探測器及智能數據處理系統，確保檢測精度與效率。

應用范圍

材料科學研究：分析金屬、陶瓷、高分子等材料的晶體結構、相變行為及殘余應力，優化材料性能。

地質勘探：快速鑒定礦石礦物種類，分析土壤與巖石中的礦物組成，輔助資源評估。

生物醫藥：篩查藥物多晶型，評估晶型穩定性，確保藥品質量與療效。

工業質量控制：監控薄膜涂層、電子元器件的晶體質量，檢測金屬材料內部缺陷。

考古與文化遺產保護：無損鑒定文物材質，分析古代陶瓷、金屬的制造工藝。

產品技術參數

測角儀系統：θ-θ立式測角儀，衍射圓半徑150mm，2θ角度范圍-3°至+150°。

角度精度：全譜范圍內<±0.02°偏差，分辨率<0.04°2θ（FWHM）。

探測器：高分辨率探測器，支持Cu、Co等多種靶材X射線源。

樣品兼容性：支持粉末、塊狀及薄膜樣品，最小檢測量15mg（粒徑<150μm）。

儀器尺寸：580mm×450mm×680mm（L×W×H），重量120kg，適用實驗室固定安裝。

電源與功耗：220V±10V，50Hz，整機功率1000W。

產品特點

高精度與穩定性：采用θ-θ測角儀與閉環控制系統，確保長期檢測精度重復性。

智能分析軟件：配備專業數據處理包，支持物相自動鑒別、結晶度計算及應力分析，一鍵生成檢測報告。

多場景適配性：可選配馬弗爐、自動進樣器等附件，實現原位高溫/環境相變追蹤。

安全防護設計：三級輻射屏蔽結構，表面輻射劑量<0.1mRad/h，符合國家安全標準。

擴展性與兼容性：支持反射/透射雙模式，兼容30位自動樣品交換器，提升檢測通量。