工作原理
光學成像系統:
無限遠光學設計:物鏡與目鏡間采用無限遠光路,消除像差,提升成像清晰度與邊緣銳度。
多倍率物鏡:配置 5X、10x、20x、50x、100x 等不同倍率物鏡,支持快速切換,適應不同放大需求。
柯勒照明:通過聚光鏡與孔徑光闌調節,實現均勻、可調的照明強度,優化觀察效果。
圖像采集與處理:
高分辨率CCD傳感器:采集顯微圖像并傳輸至計算機,支持實時顯示與存儲(分辨率 1920×1080)。
專業測量軟件:
圖像處理:自動去噪、增強對比度、邊緣銳化,提升測量準確性。
尺寸測量:支持點、線、圓、角度、面積等幾何參數測量,精度達 ±0.1μm。
形貌分析:通過灰度值分布或輪廓提取,分析表面粗糙度、孔隙率等特征。
觀察模式切換:
明場觀察:適用于透明或半透明樣品(如金屬薄片、塑料薄膜)的表面形貌分析。
暗場觀察:通過環形光闌遮擋中心光,突出樣品邊緣與表面缺陷(如劃痕、裂紋)。
應用范圍
工業檢測:
電子行業:PCB板焊點質量檢測、芯片引腳間距測量、SMT元件尺寸驗證。
機械制造:精密零件(齒輪、軸承、螺紋)的尺寸公差檢測與表面缺陷分析。
冶金行業:金屬材料晶粒度評級、夾雜物形態與分布觀察。
材料分析:
復合材料:纖維排列方向、層間結合強度評估。
涂層材料:涂層厚度均勻性檢測、孔隙率計算。
生物材料:細胞形態觀察(需配套生物顯微鏡模塊)。
質量控制與研發:
失效分析:通過斷口形貌觀察,定位材料斷裂原因(如疲勞、腐蝕)。
新產品開發:驗證微納結構設計與工藝參數優化效果。
教育科研:
高校實驗室:材料科學、機械工程等專業教學演示與實驗研究。
科研院所:納米材料、微電子器件等前沿領域的基礎研究。
產品技術參數
參數項 XJP-6A 技術指標
光學系統 無限遠色差校正光學系統
物鏡倍率 5x、10x、20x、50x、100x(可選配200x)
目鏡倍率 10x(寬視野目鏡,視場直徑20mm)
總放大倍數 50x-1000x(連續變倍)
分辨率 0.1μm(50x物鏡下)
照明方式 柯勒照明,亮度可調(LED光源,壽命≥50000h)
觀察模式 明場/暗場切換
圖像傳感器 1/2.5英寸彩色CCD,分辨率1920×1080
測量軟件 支持點、線、圓、角度、面積等幾何參數測量
數據輸出 USB 2.0接口,支持JPG/BMP圖像存儲與Excel報告生成
載物臺 機械移動式載物臺(行程50×50mm,精度0.01mm)
電源要求 AC 220V±10%, 50Hz, 50W
主機尺寸 450×320×600 mm(長×寬×高)
主機重量 約25kg
產品特點
高精度與高清晰度:
無限遠光學系統消除像差,搭配高分辨率CCD,確保圖像邊緣銳利、細節清晰。
測量精度達 ±0.1μm,滿足工業級精密檢測需求。
多功能與易操作性:
支持明場/暗場觀察模式切換,適應不同樣品類型。
專業測量軟件界面友好,一鍵完成圖像采集、處理與報告生成。
穩定可靠:
LED光源壽命長(≥50000h),無需頻繁更換,降低維護成本。
機械載物臺采用精密導軌,移動平穩,定位精準。
人性化設計:
緊湊型機身設計,節省實驗室空間。
防靜電涂層處理,避免樣品吸附灰塵,提升觀察效果。
擴展性強:
可選配偏光模塊、熒光模塊、金相分析軟件等,擴展應用范圍。
支持與第三方圖像處理軟件(如ImageJ)兼容,滿足個性化需求。