Auto SE是一款集成了液晶調制技術和反射式微光斑的全自動快速橢偏儀，具備高重復性和信噪比，適用于多種樣品的快速薄膜測量與質量控制。其一鍵式操作界面簡化了數據處理流程，同時提供自動MAPPING掃描功能以評估樣品鍍膜均勻性。該設備兼容200mm×200mm樣品臺，覆蓋450-1000nm光譜范圍，適合科研與工業生產中的非均勻及圖案化樣品測試需求。
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀產品介紹：
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜厚度、光學常數、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。它是用于快速薄膜測量和器件質量控制的解決方案。專為薄膜測量設計，一鍵式操作實現高效率。
光斑可視系統：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀具備MyAutoView光斑可視系統，可清晰觀察光滑或粗糙的樣品表面，保證用戶可將測量光斑準確定位在樣品目標上的測量位置。
大樣品成像選項：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀配備自動平臺，方便定位測量樣品上微結構的位置，可對不均勻大樣品片進行mapping成像。
智能診斷：HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀儀器維護非常簡單，借助完整的操作向導，自動檢測并診斷問題，對故障進行處理
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀產品測量原理：
HORIBA Auto SE 橢偏儀是利用薄膜的光學特性進行膜厚測量的非接觸測量方法?；谄窆夥瓷浠蛲干鋾r的狀態變化來測量薄膜的厚度和折射率。當偏振光照射到薄膜表面時，反射光或透射光的偏振狀態會發生變化，這種變化依賴于薄膜的厚度、折射率以及入射光的偏振狀態和角度。通過分析這些變化，可以準確地推導出薄膜的厚度。
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀軟件：
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀軟件DeltaPsi2功能強大，它基于WindowsT操作系統，充分利用了HORIBA Scientific（JobinYvon光譜技術）橢偏儀硬件技術的優勢，具有眾多的建模和擬合處理功能，以及簡單的操作界面，可為研究者提供便捷的橢偏分析手段。
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湖北 - 武漢
2025年07月23日 ~ 26日
