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工作原理
BDX-606基于X射線熒光光譜技術，通過高壓電源驅動X射線管產生高能X射線，激發樣品表面原子內層電子躍遷，外層電子填補空穴時釋放特征X射線熒光。美國Amptek Si-PIN探測器接收不同能量的熒光信號，經多道脈沖分析器處理后，生成能量-強度分布譜圖。軟件通過特征峰能量識別元素種類，結合標準樣品或理論模型計算元素含量，實現快速無損檢測。
應用范圍
該設備覆蓋RoHS合規檢測、金屬成分分析、礦石品位測定三大核心領域。在電子行業，可精準檢測塑膠制品中鉛、汞、鎘等有害元素；在冶金領域，支持不銹鋼、鋁合金等金屬材料的成分快速篩查；在地質勘探中，可分析鉛鋅礦、銅礦等礦石的主次元素含量。此外，設備兼容粉末、液體、塊狀等多種形態樣品，滿足工業廢水重金屬檢測、油品添加劑分析等場景需求。
技術參數
元素檢測范圍：鈉（Na）至鈾（U）
檢出限：鉛/鎘/鉻/汞≤2ppm，溴/氯≤50ppm
測試時間：60-300秒可調
探測器分辨率：149±5eV
樣品腔尺寸：350×300×150mm
電源：AC 220V±10%，50/60Hz
輻射劑量：低于國家標準，獲輻射安全許可證
產品特點
高效精準：采用數字多道技術，計數率超600KCPS，單次檢測可同步分析20余種元素，重復性誤差＜1.5%。
安全可靠：三重輻射防護設計，包括X光管特殊處理、樣品蓋鉛皮包裹及軟件預警系統，確保操作人員安全。
智能便捷：支持多語言界面與一鍵式操作，可自動生成PDF/EXCEL報告，兼容Windows 10系統，配備1500萬像素CCD攝像機實時觀察樣品狀態。
維護成本低：電制冷探測器無需液氮冷卻，設備內置自動校準功能，降低耗材與維護頻次。
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湖南 - 長沙
2025年08月07日 ~ 09日
