工作原理
設備采用錐形束CT(CBCT)技術:X射線源與平板探測器圍繞被測物體同步旋轉,采集不同角度的投影數據;通過濾波反投影(FBP)或迭代重建算法(如ART、SART),將二維投影轉換為三維斷層圖像。結合高分辨率探測器與多能譜成像技術,可區分材料密度差異,精準定位氣孔、裂紋、夾雜等缺陷,符合GB/T 23902-2009《無損檢測 工業計算機層析成像(CT)檢測通用方法》標準要求。
應用范圍
該產品適用于航空航天領域檢測發動機渦輪葉片、復合材料構件的內部缺陷;汽車制造業監控鑄件、電子元件(如PCB板)的焊接質量;公共安全中分析爆炸物、違禁品的內部結構;科研領域用于材料孔隙率分析、地質樣品三維建模。其高精度三維成像支持研發階段的逆向設計與生產線的在線質控,是質檢機構、高校及工業企業的關鍵檢測工具。
產品技術參數
X射線源:微焦點(≤5μm)或大功率(≥300kV)
探測器類型:平板(像素尺寸50μm/100μm)
掃描范圍:直徑50mm~2000mm(定制可擴展)
分辨率:≤1μm(微焦點模式)
重建速度:≤5秒/層(2048×2048像素)
接口:千兆網(GigE)、USB3.1
電源:AC 220V±10%,50Hz,功率≤3000W
工作環境:5~40℃,濕度≤85%RH
外形尺寸:1500×1200×1800mm(標準機型)
產品特點
高精度三維成像:微焦點X射線源實現亞微米級分辨率,精準檢測微小缺陷(如0.1mm裂紋)。
多模態分析功能:支持密度分布、孔隙率計算、壁厚測量等定量分析,適配材料科學研究需求。
快速掃描與重建:每秒360°旋轉掃描,結合GPU加速重建,大幅提升檢測效率。
智能缺陷識別:內置AI算法自動標注缺陷類型(氣孔、裂紋、夾雜),生成檢測報告。
合規性保障:符合GB/T 23902-2009《無損檢測 工業CT檢測通用方法》及ASTM E1441-20標準,圖像數據可直接用于產品質量認證與科研論文發表。