工作原理
AL-NP-5010采用X射線管激發樣品,高能X射線照射樣品表面,使原子內層電子躍遷,外層電子填補空位時釋放特征X射線。能量色散檢測器(如硅漂移探測器SDD)將X射線光子轉換為電脈沖信號,通過多道分析器(MCA)記錄能量與計數,結合標準曲線與算法,定性與定量分析元素種類及含量(如Na至U),符合GB/T 17359-2012標準要求。
應用范圍
該產品適用于冶金行業檢測金屬合金成分(如鋼、鋁、銅);地質領域分析礦石品位與土壤重金屬(如Pb、Cd、As);環保行業監測大氣顆粒物、水體沉積物的污染元素;建材行業控制水泥、陶瓷的原料成分。其非破壞性檢測支持研發階段的材料篩選與生產線的在線質控,是質檢機構、高校及工業企業的關鍵分析工具。
產品技術參數
元素檢測范圍:Na(11)~U(92)
檢測限:1~100ppm(視元素而定)
分析時間:30~300秒(可調)
樣品形態:固體、粉末、液體(需適配樣品杯)
檢測器:硅漂移探測器(SDD,分辨率≤140eV)
X射線管:銠靶(Rh)或銀靶(Ag),功率≤50W
數據輸出:定性譜圖、定量濃度、統計報告
接口:USB 3.0、以太網、VGA
電源:AC 220V±10%,50Hz,功率≤800W
工作環境:5~40℃,濕度≤85%RH
外形尺寸:600×500×1400mm(臺式)
產品特點
多元素快速分析:同時檢測20余種元素,30秒內完成從Na到U的定性篩查。
高靈敏度與分辨率:SDD檢測器實現輕元素(如Na、Mg)與痕量元素的精準檢測。
智能軟件與數據庫:內置常見材料標準曲線庫(如合金牌號、礦石類型),支持自動匹配與報告生成。
操作簡便與安全:觸控屏操作,封閉式X射線設計,符合GB 16797-2019輻射安全標準。
合規性保障:符合GB/T 17359-2012《微束分析 能譜法定量分析》及ISO 15632-2012標準,測量數據可直接用于產品質量認證與科研論文發表。