輝光放電高分辨質譜儀
這臺輝光放電高分辨質譜儀(型號:ELEMENT GD PLUS)主要用于高純固體樣品中元素的分析,能夠在單次掃描中完成基體元素(%)、痕量元素(ppm)和超痕量元素(ppb)的檢測,分析范圍覆蓋整個元素周期表。設備采用固體直接進樣,分析速度快,通常一個樣品的分析時間在15分鐘左右。其測定下限低,多數元素檢測限可達1 ppb(wt),具備超過12個數量級的自動檢測系統,分辨率切換時間小于1秒,能夠滿足高精度、高靈敏度的元素分析需求。
用于高純固體樣品元素的分析
設備型號:ELEMENT GD PLUS
主要用途
用于高純固體樣品元素的分析,單次掃描可完成基體元素(%)、痕量元素(ppm)和超痕量元素(ppb)的檢測,分析元素范圍覆蓋元素周期表。
項目介紹
設備參數/指標
功能配置
l 分析速度快:固體直接進樣,通常分析一個樣品在15 min左右
l 測定下限低:多數元素檢測限可達1ppb(wt)
l 超過12個數量級的自動檢測系統
l 分辨率切換時間<1 秒