本發明實施例提供了一種硬盤性能檢測方法、裝置、系統、存儲介質及電子裝置,其方法包括:獲取第一指令,其中,第一指令用于請求目標硬盤執行目標處理;獲取第一指令的第一信息;基于硬盤信息將第一指令發送給目標硬盤;獲取到目標硬盤在基于第一指令執行完目標處理之后,返回的第一指令響應;獲取第一指令響應的第二信息;基于第一發送時間與第二發送時間的時間差以及處理量確定目標硬盤的性能。通過本發明,解決了相關技術中硬盤性能檢測不準確的問題,進而達到了提高硬盤性能檢測準確性的效果。
聲明:
“硬盤性能檢測方法、裝置、系統、存儲介質及電子裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)