本實用新型屬于電性能的測試裝置,具體公開了一種晶振電性能檢測進料機構,包括機架,所述機架上轉動連接有定位盤,所述定位盤上沿徑向開有檢測槽,所述檢測槽內固定連接有電性能檢測機構和出料機構,機架上還轉動連接有撥料盤,所述撥料盤上沿徑向設有撥爪,所述撥料盤與定位盤組成槽輪機構,所述撥料盤圓心固定連接有電機,電機固定連接于機架內。本實用新型的目的在于解決現有的晶振電性能檢測裝置結構復雜的問題。
聲明:
“晶振電性能檢測進料機構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)