一種用于大口徑光學元件光學性能檢測的三維平臺,包括水平移動(X軸)部分、豎直移動(Z軸)部分和水平旋轉(C軸)部分。提出了一種針對不同尺寸光學元件可靈活裝夾,并滿足多種光學性能檢測的平臺設計方案。通過對機床的結構的合理布局,在最大限度預留多種光學性能檢測所需要三維空間的同時,也解決了常規機械平臺在光學檢測領域通用性差的問題。
聲明:
“用于大口徑光學元件光學性能檢測的三維平臺” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)