本發明實施例公開了一種用于光模塊的雪崩光電二極管APD性能檢測方法、裝置、光網絡及介質。該用于光模塊的APD性能檢測方法,適用于包括光模塊和光網絡單元ONU的光網絡,所述方法包括:選取至少一個光網絡單元標識ONU ID作為檢測ONU ID;為所述檢測ONU ID分配帶寬并且所述帶寬使能;獲取所述光模塊對于所述檢測ONU ID的接收光功率;基于所述接收光功率判斷所述光模塊中APD的性能是否劣化,可以及時發現光模塊的APD出現劣化,減小APD性能劣化對光網絡正常運行的影響。
聲明:
“用于光模塊的APD性能檢測方法、裝置、光網絡及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)