本發明公開的一種CPU半導體導電性能檢測系統,包括檢測臺,所述檢測臺左側端面上固定連接有升降支架,所述升降支架上設有斷針修復及導電性檢測切換機構,所述斷針修復及導電性檢測切換機構上設有CPU針腳焊接機構,所述CPU針腳焊接機構上設有左右對稱的焊接針腳磨圓機構,本發明的CPU針腳焊接機構在焊接前對電烙鐵進行預熱,在下移進行焊接之前切斷電烙鐵電源,并使電烙鐵接地,從而避免電烙鐵在焊接過程中存在靜電,有效避免針腳焊接過程中靜電對CPU造成二次損傷,斷針修復及導電性檢測切換機構能自動檢測CPU上斷針位置,CPU針腳焊接機構能自動將銅絲焊接在CPU上。
聲明:
“一種CPU半導體導電性能檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)