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    一種新型晶體性能檢測電路

    1134   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:19:39
    本發明一種新型晶體性能檢測電路,由待測晶體(X)、第一三極管(VT1)、第二三極管(VT2)、第一二極管(VD1)、第二二極管(VD2)、燈泡(D)、第一電容(C1)、第二電容(C2)、第三電容(C3)、第四電容(C4)組成;其中第一電容(C1)與第二電容(C2)串聯然后與待測晶體(X)并聯;第一三極管(VT1)的基極與待測晶體(X)連接,其集電極與電源正極連接;第二三極管(VT2)的發射極與電源地連接,其集電極與燈泡(D)連接。該檢測電路是由兩只晶體管構成的晶體性能測試電路,可以檢測晶體能否振蕩。
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    “一種新型晶體性能檢測電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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