本實用新型涉及檢測設備技術領域,公開了一種芯片研發用性能檢測設備,其結構包括固定板、活動板和檢測頭,活動板上設置有伺服電機、軌道槽和軸承,伺服電機固定連接在活動板的一端,軌道槽位于活動板的一側,并且與活動板的內部相通,軸承設置有兩個,并且固定連接在活動板內部的兩側,軸承通過絲桿連接有活動塊,活動塊的一端可拆卸安裝有夾板,夾板通過壓力傳感器通過橡膠板,伺服電機和壓力傳感器通過導線電性連接有控制器。本實用新型實現了對芯片進行自動夾持,節省了芯片在夾持固定時的時間,避免了夾板對芯片的擠壓力過大而導致芯片損壞的現象,提高了芯片檢測夾持過程中的保護效果。
聲明:
“一種芯片研發用性能檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)