本發明公開了一種處理器內部通用接口性能檢測與分析方法、系統及介質,本發明方法包括數據提取、數據預處理、性能計算等步驟,通過在硅前驗證階段監測處理器內部接口的數據報文,計算得到系統中各接口性能和數據流在各相鄰接口之間的延時等性能數據,繼而分析得到系統的整體性能和定位系統性能瓶頸,為設計師進行代碼優化提供依據和方向。本發明可在RTL階段就進行性能分析,不止性能分析時間左移,在硅前進行性能優化,還可以精準定位性能瓶頸,降低性能優化難度,最重要的是可以在流片前對芯片具體性能情況有比較精準的把握。同時本發明具有廣泛地適用性,既可以用于軟模擬仿真平臺,也可以用于硬件仿真加速器平臺和FPGA平臺。
聲明:
“一種處理器內部通用接口性能檢測與分析方法、系統及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)