本發明實施例公開一種光模塊性能檢測設備、方法及系統。所述檢測設備包括光電轉換組件、控制組件、放大組件以及接口組件,所述光電轉換組件用于接收光信號,并將所述光信號轉換成電流信號,分別向所述控制組件、所述放大組件發送所述電流信號;所述光信號為待測光模塊發射或接收的;所述控制組件,用于接收所述電流信號,基于所述電流信號和特定函數獲得所述光信號的功率值;所述放大組件,用于接收所述電流信號,將所述電流信號轉換成電壓信號,按照設定倍數放大所述電壓信號,通過所述接口組件輸出放大的電壓信號;所述放大的電壓信號用于與所述待測光模塊中與所述光信號相關的電壓信號比對獲得在所述功率值下所述待測光模塊的性能指標。
聲明:
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