本發明公開了一種用于取向硅鋼片性能檢測的單片磁導計,包括U型上磁軛、U型下磁軛、初級線圈繞組、次級線圈繞組、H線圈繞組及支撐板;次級線圈繞組位于初級線圈繞組內部且均布置在支撐板上,待測試樣放置于支撐板上且位于次級線圈繞組中間,H線圈繞組位于待測試樣下表面中間部位的下方;H線圈繞組包括3~5個大小相等、等間距分布且串聯布置的H線圈單元,所有H線圈單元沿待測試樣的中心軸對稱分布在待測試樣下表面中間部位的下方。還提供一種檢測裝置和檢測方法,采用H線圈繞組直接測量電工鋼帶單片試樣的磁極化強度和采用數字空氣磁通補償的檢測方法測得的結果更接近樣品真實值。
聲明:
“用于取向硅鋼片性能檢測的單片磁導計、檢測裝置及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)