本申請提供了一種晶振探頭性能檢測系統,包括:服務器以及與服務器通信連接的數據庫、晶振探頭、驅動裝置、晶振儀和位置接收器。驅動裝置用于驅動晶振探頭旋轉,位置接收器用于獲取晶振片的位置信號,晶振儀用于獲取晶振片的頻率信號,服務器用于基于獲取的頻率信號對晶振片的接觸性能進行檢測。本申請能夠自動檢測晶振片的接觸性能,并且能夠確保檢測質量。
聲明:
“晶振探頭性能檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)