本發明公開一種多SITE LCD驅動芯片檢測方法,所述上位機發送檢測指令,載入LCD驅動命令信息,驅動LCD驅動芯片管腳輸出波形;所述主控板解析上位機傳輸的控制信息,分批次對多路LCD驅動芯引腳進行模擬量信號采集,模數轉換后將數據存入內存單元;然后將數據從內存單元讀出,通過算法判定,核對每路波形BIAS與上位機設定值的一致性,將結果上傳至上位機,判定芯片是否檢測成功。本發明還公開一種多SITE LCD驅動芯片檢測裝置,本發明可同時控制多SITE LCD驅動芯片進行全性能檢測,使用方便,效率高。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)