本申請公開了一種硬盤檢測方法、裝置、計算機設備及存儲介質,該方法通過獲取硬盤存儲器對應的存儲系統中目標系統分層的響應延遲,目標系統分層為存儲系統中的任一層級系統分層;將目標系統分層的響應延遲與目標系統分層對應的延遲閾值進行比較,得到目標系統分層對應的比較結果;基于比較結果,確定目標系統分層是否存在卡頓。由此,可以實現對硬盤進行性能檢測時,能夠定位到硬盤存儲器對應的存儲系統中的系統分層進行檢測,實現硬盤性能的精準檢測。
聲明:
“硬盤檢測方法、裝置、計算機設備及存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)