本發明涉及一種存儲單元的檢測方法和檢測電路。存儲單元的檢測方法包括如下步驟:在封裝存儲塊之前,將存儲塊邊緣單元的字線的一端以及位線的一端分別通過第一放大器和第二放大器,與內建自測邏輯電路的輸入端連接;對與內建自測邏輯電路連接的字線和位線施加測量電壓或測量電流;通過內建自測邏輯電路的輸出端輸出邊緣單元的測量結果。將位于存儲塊邊緣單元的字線的一端以及位線的一端分別通過第一放大器和第二放大器與內建自測邏輯電路的輸入端連接,再施加測量電壓或測量電流,通過內建自測邏輯電路的輸出端輸出測量結果,能夠在不影響存儲單元的情況下對存儲塊進行性能檢測,方法便捷,不影響產品良率和產品成本。
聲明:
“一種存儲單元的檢測方法和檢測電路” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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