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    一種用于光學系統豎直狀態系統波像差測試的立式檢測系統

    813   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:28:46
    本申請屬于光學遙感器系統性能檢測技術領域,特別涉及一種用于光學系統豎直狀態系統波像差測試的立式檢測系統,包括:桁架主體、二維平移調整臺、平面反射鏡組件,所述桁架主體用于承載二維平移調整臺和所述平面反射鏡組件;所述二維平移調整臺安裝在所述桁架主體的上端,所述平面反射鏡組件安裝在所述二維平移調整臺上,所述平面反射鏡組件用于反射光學系統射出的平行光,所述二維平移調整臺帶動所述平面反射鏡實現二維平移運動。實現了大口徑光學系統豎直狀態的光路自準直,檢測多個子孔徑的系統波像差,繼而拼接獲取全口徑的系統波像差,完成光學系統豎直極限工況下的系統像質測試,有效解決了以往只能用仿真實現驗證的問題。
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    聲明:
    “一種用于光學系統豎直狀態系統波像差測試的立式檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
    我是此專利(論文)的發明人(作者)
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