本發明涉及一種太赫茲波性能的檢測裝置和方法,采用了具有可調諧反射空間太赫茲波效果的本征鍺材料平板、拋物面鏡、二維掃描振鏡和兩個一維直流電機,將本征鍺材料平板固定在太赫茲準直光束傳輸的路徑中,通過調節二維掃描振鏡,使縮束后的光束掃描本征鍺材料的不同空間位置,反射需要探測的區域,同時用電光晶體探測太赫茲光束的時域光譜,最后通過后期頻譜分析處理,即可實現太赫茲光束不同區域內電場幅度、頻率和相位的數據提取??梢越鉀Q國際上對源特征探測的科學難題,為后期的科學研究工作奠定基礎,在實際應用中可以幫助使用者針對不同的源采用不同的特征選取手段,提高太赫茲波的應用效率。
聲明:
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