公開了用于測量液體樣本中的分析物濃度的方法。這種方法進一步允許人們在提供分析物濃度之前提供錯誤代碼或者對諸如抗氧化劑之類的干擾物進行校正和/或補償。該測量方法利用從具有諸如慢斜坡雙極性波形之類的至少一個DC塊的測試序列獲得的信息,其中在DC塊期間保持閉路條件。該方法使用與在電化學分析期間氧化還原介體特征的狀態相關的信息以在抗氧化劑與分析物濃度發生干擾的情況下提供抗氧化劑防故障。還公開了結合各種測量方法的設備、裝置和系統。
聲明:
“在電化學測量期間檢測高抗氧化劑水平和從中對分析物濃度防故障的方法及結合其的設備、裝置和系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)