本發明公開了一種應用于化學發光分析儀發光值的自適應測量計算方法。本發明采用固定步進長度,連續多點讀值,獲取完整的關于檢測位置和發光值的對應圖。選取最高值左右兩側最近處的發光值各兩個,兩側各連接最近處發光值構成直線,兩條直線交點作為近似最高發光值。本發明為一種測量和計算方法,能自適應被檢測物的隨機位置,穩定地得到其近似最高發光值,減少了為確認測量位置的準確性而增加的硬件復雜設計和成本。
聲明:
“應用于化學發光分析儀發光值的自適應測量計算方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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