本發明公開一種基于超順磁Fe3O4@void@TiO2原位構建銀離子的光電化學檢測方法,所述方法包括下述步驟:S1、制備Fe3O4納米簇;S2、制備Fe3O4@SiO2微球;S3、制備Fe3O4@SiO2@TiO2微球;S4、制備Fe3O4@void@TiO2?Ag+微球;S5、制備Fe3O4@void@TiO2?Ag微球和光電流測量。本發明具有操作方便、便攜、靈敏度高、和耗時短等優異性能。
聲明:
“基于超順磁Fe3O4@void@TiO2原位構建銀離子的光電化學檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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