本發明涉及一種利用掃描電化學顯微鏡(SECM)檢測不可逆電穿孔程度的方法,其通過對脈沖電場刺激后的細胞的膜通透性(Pm)進行測定,實現細胞電穿孔程度的快速高效檢測。該方法先測定出SECM探針對細胞的逼近曲線,再將逼近曲線換算成細胞膜通透性來完成對電穿孔程度的測定,并通過已有的檢測方法測定細胞的存活率曲線,將Pm值與細胞存活率建立關系,來驗證細胞膜通透性能完成不可逆電穿孔的檢測,發現細胞膜通透性隨脈沖電壓變化的規律與細胞存活率在脈沖電壓變化時的規律幾乎一致,因此利用SECM測定細胞的電穿孔程度的方法是有效可靠的。
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