根據作為傳感器芯片的基本特性的溫度依賴性,隨著電力的供給,傳感器芯片本身的溫度上升。而且,如果在溫度上升變為穩定狀態,傳感器芯片光電二極管暗電流變為恒定的時刻,添加化學發光反應試劑,則依賴于試劑溫度,傳感器芯片溫度發生急劇的變化。此時,傳感器芯片光電二極管暗電流發生顯著的偏差。通過利用熱擴散介質的放熱作用使傳感器芯片的溫度變化為最低限度,從而使傳感器芯片光電二極管暗電流的偏差(不穩定化)降低。
聲明:
“試料分析芯片以及使用該試料分析芯片的測量系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)