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    帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法

    1056   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 06:46:32
    本發明提供一種帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法,原理圖如圖2所示。實驗時探針從距離樣品基底H高度的位置開始向下步進,當檢測到的電流達到電流閾值I時探針停止移動,記錄此時探針的移動距離D,用H?D作為這個點的檢測值,然后自動返回到H高度上繼續下一個點的檢測。帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法可以防止探針與被測樣品發生剛性接觸,避免損壞探針。且電化學成像測量結果中的每個檢測點都足夠接近被測樣品表面,使電化學成像的分辨率得到顯著的提高。
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    “帶hopping跳躍成像模式的電化學成像測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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