本發明屬于分析化學領域,具體涉及一種原位電離質譜系統及分析方法。該原位電離質譜系統包括電離裝置、質譜裝置以及設置在二者之間的樣品平臺,該樣品平臺包括樣品板和固定裝置,樣品板用于承托待測樣品,固定裝置用于固定樣品板并能使樣品板在水平方向上移動。本發明的原位電離質譜系統不僅能夠連續多次測樣,而且還可適用于不同形狀和大小的樣品,具有檢測效率高、普適性好的優點。并且本發明通過在電離裝置的氣流出口處設置限流件,可將電離裝置產生的亞穩態粒子流集中引到待測樣品表面,提高樣品表面分析的分辨率;通過將質譜裝置的入口傳輸管設置成具有不同角度的彎管,由此可將離子化后的待測化合物高效傳輸到質譜裝置中進行實時分析。
聲明:
“原位電離質譜系統及分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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