一種快速、高精度地分析光譜數據的方法,包括用于模式識別的線性掃描(LINSCAN)方法和高級峰值檢測方法。這些方法之一或者全部都用于支持檢測和識別化學物質、生物物質、放射性物質、核物質和爆炸物。通過兩種光譜分析方法,可分析多種目標的光譜。這兩種方法可以結合起來進行雙重驗證,相對于單獨采用其中一種方法,可獲得更高的精確度,并減少誤報和漏報。
聲明:
“用于光譜分析的高級模式識別系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)