本發明屬于化工分析處理技術領域,涉及一種X射線熒光光譜法分析氫氧化鋁中成分含量的方法、氫氧化鋁及其應用。本發明的X射線熒光光譜法分析氫氧化鋁中成分含量的方法,包括以下步驟:研磨;粉末壓片;采用X射線熒光光譜法,測定樣片中各成分的發射強度,利用已建立的各成分的工作曲線,進行待測氫氧化鋁樣片中Al2O3、Fe2O3、SiO2和Na2O含量的分析。本發明方法操作簡單,分析速度快,可同時分析氫氧化鋁中Al2O3、Fe2O3、SiO2、Na2O四項成分,通過確認該方法具有科學性、先進性、適用性、分析時間短、準確度高、重復性好、無污染等特點;重復性和再現性均優于國家標準的氫氧化鋁中化學成分的測定方法。
聲明:
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