本發明涉及化學分析技術領域,具體涉及一種用于X熒光分析的粉末制樣方法;包括如下步驟:(1)將XRF邁拉膜蓋在工作托盤上,再在XRF邁拉膜上放一只塑料環,使工作托盤完全托住塑料環;(2)往塑料環中加入粉末樣品,刮平、壓實,使粉末與塑料環環口平齊,得待制品;(3)將待制品放在壓樣機上進行壓制,成型后撤去工作托盤,用透明膠帶封實樣片上與空氣直接接觸的一面,即得成品;本發明提供的制樣方法簡單、方便、快捷,制得的樣片質量及使用效果好,在X射線照射及近真空環境的環境下依然能保持表面的平整和光滑,實際分析過程中不會開裂,從而避免污染分析腔,分析時也不會腐蝕分光晶體,大大提高了樣品分析的準確性和X熒光使用的安全性。
聲明:
“用于X熒光分析的粉末制樣方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)