本發明涉及一種電致化學發光成像方法,包括:S1,控制終端控制電致化學發光單元的導電探針接近被測物;S2,控制終端控制導電探針在被測物上方逐點掃描,同時控制電致化學發光單元誘導被測物電致化學發光;S3,光學檢測單元檢測導電探針在被測物上方逐點掃描時待測物的電致化學發光強度,并將電致化學發光強度發送至控制終端;S4,控制終端將導電探針在逐點掃描時的空間位置和所述電致化學發光強度一一對應,得到電致化學發光的分布圖像。本發明的電致化學發光成像方法,基于掃描探針顯微成像原理,具有遠高于光學成像方式的成像分辨率。
聲明:
“電致化學發光成像系統及其成像方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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