本發明公開了一種針對雙級化學反應器的采樣控制方法。該方法為:首先對雙級化學反應器進行建模,得到化學反應器的狀態空間模型;然后針對得到的系統模型,對系統進行坐標變換,引入可調參數,得到變換后的新系統;接著針對系統不可量測的狀態設計相應的線性離散狀態觀測器,對系統狀態進行估計;再構造合適的李雅普諾夫函數,利用李雅普諾夫穩定性理論,得到系統可調參數和采樣周期的取值范圍,對雙級化學反應器的采樣進行控制,最后利用確定的坐標變換中引入的可變參數L及采樣周期T,對雙級化學反應器的采樣進行控制。本發明能夠很好地估計系統的未知狀態,并且提高了雙級化學反應器采樣控制的穩定性。
聲明:
“針對雙級化學反應器的采樣控制方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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