本發明涉及一種用于組合材料芯片的高通量電化學表征的裝置及方法。測試儀器包括絲束電極、絲束電極電流電位掃描儀、具有成分梯度分布的薄膜樣品以及特定的腐蝕介質。采用絲束電極電流電位掃描儀中的絲束電極測量方法得到絲束電極每個探針的電極電位以及電流,從而可以比較薄膜樣品表面不同區域的電位分布和電流分布,最終得到待測樣品表面的局部電化學參數信息。這種測量方法具有操作簡單、能夠同時完成多區域的并行測量,因此可以大大提升電化學信息的表征速度,為材料的防蝕性能評價提供一種快速的篩選方法。
聲明:
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