本發明公開了一種利用紫外臭氧修復微流控芯片內碳電極電化學性能的方法,本發明通過將紫外臭氧清洗機產生的紫外臭氧氣流導入到微流控芯片內,利用紫外臭氧與集成在微流控芯片中碳電極表面的有機污染物發生化學反應生成揮發性氣體,實現微流控芯片中污染碳電極電化學性能的修復,最終確保利用碳電極進行重復性測試時實驗數據的準確性。該方法操作簡單方便、通用性強、經濟性好。
聲明:
“利用紫外臭氧修復微流控芯片內碳電極電化學性能的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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