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    掃描電化學顯微鏡探針及其制備方法

    1122   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
    2023-03-19 07:01:15
    本發明屬于電化學技術領域,具體為一種掃描電化學顯微鏡探針及其制備方法。本發明制備方法包括:以納米薄膜的形式制備探針的犧牲層;以納米薄膜的形式在犧牲層上制備探針的絕緣層,絕緣層厚度控制在5?50 nm;以納米薄膜的形式在絕緣層上制備金屬電極層,金屬電極層的厚度控制在5?50 nm;利用有機溶劑去除犧牲層釋放絕緣層和金屬層雙層薄膜;雙層薄膜的內應變梯度促使絕緣層和金屬電極層卷曲,形成由絕緣層包裹金屬電極層的微管結構。該結構可用作掃描電化學顯微鏡探針;通過材料和結構調節,實現更高的探測性能和顯微成像分辨率。
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