本實用新型公開了一種檢測熒光發光的光路結構,包括光源、第一聚光鏡以及分光鏡并按輸出光路方向從右至左依次設置,所述分光鏡上方沿其透射光路方向從下至上依次設有透鏡、第二聚光鏡和光電倍增管,所述分光鏡下方沿其反射光路方向從上至下依次設有第三聚光鏡、樣品微孔和檢測樣品,所述樣品微孔出光口正對所述檢測樣品設置,所述光源與第一聚光鏡之間以及透鏡與第二聚光鏡之間均設有濾光組件,該檢測光路結構簡單、穩定性好,而且能夠對時間分辨熒光免疫分析法、熒光分析法和化學發光免疫分析法進行多模式測量,提高同一光路結構測量的適用范圍。
聲明:
“檢測熒光發光的光路結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)