提供了與用于分析物檢測和測量的大規模FET陣列有關的方法和裝置?;诟倪M的FET像素和陣列設計,使用常規CMOS加工技術,可以制造chemFET(例如,ISFET)陣列,其會增加測量靈敏度和準確度,并同時促進明顯小的像素尺寸和密集的陣列。改進的陣列控制技術會提供從大和密集陣列快速獲取數據。這樣的陣列可以用于檢測在多種化學和/或生物過程中的不同分析物類型的存在和/或濃度變化。
聲明:
“使用FET陣列檢測分子相互作用的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)