本發明涉及一種可用于鐵離子高選擇性檢測的新型熒光探針制備和應用,屬于分析化學技術領域,其化學結構如式(I)所示。本發明熒光分子探針含有C=N雙鍵,在受光激發的情況下會導致雙鍵順反異構化,導致熒光量子產率降低,探針在483 nm處無熒光發射。而當Fe3+與探針反應后,阻止了C=N雙鍵的翻轉,整個分子的剛性增加,483 nm處熒光顯著增強,從而實現了探針對Fe3+的高選擇性識別檢測。此外,本發明的熒光探針還可用于環境和活細胞等不同體系中的鐵離子的檢測,具有很好的應用前景。式(I)。
聲明:
“基于分子異構化機理的可用于鐵離子特異性檢測的新型熒光探針的制備方法及應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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