本發明實施例提供了一種檢測顯示面板電學不良的方法及裝置,檢測顯示面板電學不良的方法包括:利用光學觀察的方法確定目標區域,目標區域為顯示面板上出現電學不良的區域;將目標區域的底層電路暴露出來;形成導線,通過導線將目標區域的底層電路連接至信號線;將目標區域與周邊的其他區域隔離開,利用信號線向目標區域的底層電路輸入電信號進行電路測試。這樣,通過本發明實施例的檢測方法可以有效確定顯示面板上產生化學不良的具體位置,通過對目標區域進行FIB分析測試,可以進一步找到該顯示面板在設計、工藝或制程中產生不良的原因,達到提升顯示面板合格率的目的。
聲明:
“檢測顯示面板電學不良的方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)